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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
leeb521安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀是一款增強型場致高亮全數(shù)字式超聲波探傷儀，安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀它能夠快速便捷、無損傷、**地進行工件內(nèi)部多種缺陷（裂紋、夾雜、氣孔等）的檢測、定位、評估和診斷。
詳情介紹：
leeb521安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀的詳細(xì)介紹
安鉑leeb521安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀是一款增強型場致高亮全數(shù)字式超聲波探傷儀，它能夠快速便捷、無損傷、**地進行工件內(nèi)部多種缺陷（裂紋、夾雜、氣孔等）的檢測、定位、評估和診斷。本儀器**應(yīng)用在：實驗室，工程現(xiàn)場檢測、各地特檢院、學(xué)校科研單位、建設(shè)工程質(zhì)量檢測站、鍋爐壓力容器制造、電力行業(yè)、工程機械制造業(yè)、鋼鐵冶金業(yè)、鋼結(jié)構(gòu)制造、船舶制造、石油天然氣裝備制造等需要缺陷檢測和質(zhì)量控制的領(lǐng)域，也**應(yīng)用于**、航空航天、鐵路交通等領(lǐng)域的在役**檢查與壽命評估。
leeb521安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀：
安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀主要功能：
l 利用標(biāo)準(zhǔn)試塊自動生成DAC、AVG曲線，取樣點不受限制，并可進行補償與修正
leeb521安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀：
安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀主要功能：
l 利用標(biāo)準(zhǔn)試塊自動生成DAC、AVG曲線，取樣點不受限制，并可進行補償與修正
l 自動顯示回波相關(guān)參數(shù)（深度D、水平P、距離S、波幅H）
l 自由切換三種標(biāo)尺（深度D、水平P、距離S）
l 50個獨立探傷通道，可自由輸入并存儲任意行業(yè)的探傷標(biāo)準(zhǔn)（可擴展）；
l 可存儲300幅A形圖形、參數(shù)（可根據(jù)用戶需求擴展）；
l 自動計算缺陷當(dāng)量φ值，峰值記憶功能；
l 兩種探測方式：峰值、邊沿；
l 三種探頭方式：單晶、雙晶、穿透；
l 自動匹配阻尼，智能化操作快速探傷，閘門自動報警；
l 可根據(jù)實際工件生成自定義探傷工藝，現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊。
安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀產(chǎn)品特點
l 鋰電池供電，工作時間8小時；
l 堅固耐用，防水防塵，抗干擾能力**；
l 大屏幕高亮顯示，可以滿足在陽光下、涵洞中探傷的要求。
安鉑國產(chǎn)超聲波探傷儀技術(shù)參數(shù):
標(biāo)準(zhǔn)配置:
|
名稱
|
技術(shù)數(shù)據(jù)
|
|
掃描范圍（mm）
|
0～6000
|
|
垂直線性誤差
|
≦3%
|
|
水平線性誤差
|
≦0.1%
|
|
探傷靈敏度余量
|
≧60dB（深200mmφ2平底孔）
|
|
動態(tài)范圍
|
≧32dB
|
|
分辨率
|
≧40dB
|
|
頻率范圍（MHz）
|
0.5～20
|
|
增益調(diào)節(jié)（dB）
|
0～120
|
|
材料聲速（m/s）
|
1000～9999
|
|
回波抑制
|
0～80%
|
|
工作溫度（℃）
|
-27～70
|
|
重量（Kg）
|
1.2
|
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主機
|
1臺
|
|
直探頭
|
1支
|
|
斜探頭
|
1支
|
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電源適配器
|
1個
|
|
BNC電纜
|
1個
|
|
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leeb系列技術(shù)參數(shù)對照表：
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|
leeb520
|
leeb521
|
leeb522
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屏幕顯示
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黑白
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彩屏
|
彩屏
|
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測量范圍
|
2.5~6000mm（鋼縱波）
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|
垂直線性誤差
|
≤4%
|
||
|
動態(tài)范圍
|
≥32dB
|
≥32dB
|
≥34dB
|
|
水平線性誤差
|
≤0.2%
|
||
|
探傷靈敏度余量
|
≥50dB
|
≥56dB
|
≥60dB
|
|
通道
|
20
|
50
|
100
|
|
角度自動計算
|
否
|
有
|
有
|
|
B掃描
|
否
|
有
|
有
|
|
PC通訊
|
否
|
有
|
有
|
|
外形尺寸
|
230×184×53mm（主機）
|
||
|
重量
|
1.8Kg
|
||
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標(biāo)準(zhǔn)配置
|
主機、電源適配器、直探頭2.5MHzΦ20、探頭連接線、斜探頭5MHz8×9K2
|
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可選配
|
通訊電纜、通訊軟件
|
||
